磁粉探傷検査
磁粉探傷検査（MT）Magnetic Particle Testing
磁粉探傷試験は、磁気を利用して、表面きずや表面近傍(3mm程度まで)のきずを検出する方法です。
非常に小さなきずを発見することができ、また複雑な形状の部位でも検査することができます。
一方で、ステンレス、アルミニウム、銅などの磁石が付かない非磁性体の材料では検査することが
できず、鉄やコバルト、ニッケル等の磁石に引き寄せられる強磁性体にのみ適用することができます。
磁粉探傷試験では、試験体を磁化し、蛍光物質や着色顔料でコーティングされた磁粉を使用します。
磁粉は、きずの周りに集まり、集まった磁粉(磁粉模様)は、実際のきずの大きさの数倍から数10倍
にもなります。このため、小さなきずも目視で確認することができます。
